SEM掃描電鏡
設(shè)備名稱(chēng)：SEM掃描電鏡&EDX
設(shè)備型號(hào)：JSM-6010PLUS/LA
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15074-2008
適用對(duì)象：產(chǎn)品、材料形貌觀察、元素分析
測(cè)試量級(jí)：倍率：300000X,有效像素20000X
設(shè)備型號(hào)：JSM-6010PLUS/LA
適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15074-2008
適用對(duì)象：產(chǎn)品、材料形貌觀察、元素分析
測(cè)試量級(jí)：倍率：300000X,有效像素20000X
